Inhoudsopgave
Advertenties
B A S F S P E C T R O F O T O M E T E R 1 2 / 6
Specificaties van instrument
Meetgeometrieën
Spectrale multihoek meetgeometrieën volgens ASTM:
r45as-15, r45as15, r45as25, r45as45, r45as75, r45as110
•
Beeldgebaseerde structuurmeetgeometrieën
De camera wordt op 15° van nominaal geplaatst.
•
•
Meetgeometrieën: r15as15, r15as-45, r15as45, 15as80 en half diffuus
Spectrale-analysetechnologie
Er is een spectrale analysator op 45° t.o.v. nominaal aanwezig voor bovenstaande multihoek meetgeometrieën.
Holografisch diffractierooster met 128-pixel diode-opstelling (i1-technologie)
•
•
Continue spectrale resolutie van 10 nm
Pick-up puntgrootte ~9 x 12 mm
•
Cameratechnologie
CMOS RGB-camera
•
•
Zichthoek 9 x 12 mm
Berekende, gestandaardiseerde HDR-beelden met gekalibreerde resolutie
•
Pixelgrootte 25 μm in objectruimte
•
•
Optische resolutie 50 μm
Kleurruimte XYZ
•
•
Dataformaat EXR
Directionele belichting
Technologie
Led-technologie
•
•
Krachtige witte led
Golflengtebereik
Golflengtebereik van belichting: standaard 400 - 700 nm
•
Puntgrootte
Belichting puntgrootte 13 x 16 mm
•
Prestatie spectrale meting
Herhaalbaarheid korte termijn (MCDM)
MCDM: gemiddeld kleurverschil ten opzicht van gemiddelde 10 metingen elke 10 s
•
MCDM <= 0,05 dE op BCRA wit
•
Bij 23° +- 1°C en 40-60% relatieve luchtvochtigheid
100% test op productielijn
Prestatie tussen instrumenten MCDP, XCDP, XCDS
MCDP: gemiddeld kleurverschil ten opzichte van de populatie
•
•
XCDP: maximaal kleurverschil ten opzichte van de populatie
XCDS: maximaal kleurverschil ten opzichte van de norm De norm wordt gedefinieerd als de MA91
•
zwaartepuntpopulatie overgebracht op de HEFI-kalibratielijn.
32
Advertenties
Inhoudsopgave
